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雙光束全反射光學系統,高精度測量
光學系統: | 雙光束全反射,C-T單色器 |
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光柵: | 1800線/mm |
閃耀波長: | 250nm |
波長范圍: | 190nm - 900nm |
波長示值誤差: | ±0.5nm |
波長重復性: | ≤±0.3nm(單向) |
光譜帶寬 | : 0.2nm 、0.4nm 、0.7nm 、1 .4nm 、2.4nm 、5.0nm |
波長掃描速度 : | 1.2nm/min; 300nm/min |
分辨率: | <40% |
基線穩定性 | : ±0.005 A/30min |
特征濃度: | ≤ 0.04μ g/ml/1%(Cu元素) |
檢出限 | : ≤ 0.007μ g/ml(Cu元素) |
背景校正能力 | :大于30倍 |
燃燒器 | :100mm 單縫鈦合金 |
噴霧器 | :高效玻璃霧化器 |
霧化室: | 防爆預混合 |
通訊口: | RS232和USB |
電源: | 220V±22V,50Hz±1Hz,200W |
主機尺寸: | 1000mm×530mm×425mm |
凈重: | 130kg |
光源系統 | 空心陰極燈電源:電流可調;氘燈電源:電流固定 |
光學系統 | 雙光束全反射系統,C-T型單色器,閃耀波長250nm |
火焰原子系統 | 100mm單峰鈦合金燃燒頭,氣路設有壓力指示,高精度穩壓流量調節,斷氣、斷電、防回火功能和邏輯聯鎖保護裝置 |
信號系統 | 具有內置微機和液晶顯示屏,信號方式有吸光度、濃度、發射、發射濃度;標準曲線有線性回歸、曲線擬合、多點標準校正;可運算平均值、標準偏差、相對標準偏差的相關數據,可顯示和打印標準平均值、標準偏差、相對標準偏差的相關數據,可顯示和打印標準曲線、原子吸收峰圖、譜線輪廓圖和數據以及儀器參數表和分析報告等 |
備用接口 | RS232C接口和USB接口 |
主機電源 | AC220V±22V,50H±1Hz |
GA3202 石墨爐系統 | 用于痕量和起痕量分析, |
氫化物發生器(全自動) | 使砷、硒、銻、鉍、鉛、錫、碲、鍺、銦、鉈、鎘、鋅等元素特征濃度低于ppb級,帶冷原子測汞法 |
空心陰極燈 | 規格全 |
石墨管 | 規格全 |